
納米位移臺(tái)和普通位移臺(tái)有什么區(qū)別?
納米位移臺(tái)與普通位移臺(tái)在精度、驅(qū)動(dòng)方式、應(yīng)用場(chǎng)景等方面有明顯區(qū)別,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
1. 定位精度
納米位移臺(tái):精度可達(dá)納米級(jí),適合微小位移和高精度定位。
普通位移臺(tái):精度通常為 微米級(jí)或更粗,適合一般機(jī)械定位或大行程運(yùn)動(dòng)。
2. 運(yùn)動(dòng)控制方式
納米位移臺(tái):常用 壓電驅(qū)動(dòng)或閉環(huán)電機(jī),能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率、低滯后運(yùn)動(dòng)。
普通位移臺(tái):多用螺桿、步進(jìn)電機(jī)或直流電機(jī)驅(qū)動(dòng),精度受機(jī)械間隙和摩擦影響較大。
3. 行程范圍
納米位移臺(tái):行程相對(duì)較小,一般從幾十微米到幾毫米,強(qiáng)調(diào)精度而非距離。
普通位移臺(tái):行程大,從幾毫米到幾十厘米,適合宏觀定位。
4. 反饋與閉環(huán)控制
納米位移臺(tái):通常配備傳感器(電容、激光或干涉),可閉環(huán)反饋保證重復(fù)精度。
普通位移臺(tái):可能沒(méi)有精密反饋,或者只有粗略編碼器,重復(fù)性差。
5. 應(yīng)用場(chǎng)景
納米位移臺(tái):掃描探針顯微鏡(AFM)、掃描電鏡(SEM)、光學(xué)微操控、納米級(jí)對(duì)準(zhǔn)和微加工。
普通位移臺(tái):機(jī)械裝配、光學(xué)調(diào)節(jié)、顯微鏡粗調(diào)、一般實(shí)驗(yàn)室位移。